Рентгенівська дифракція (XRD) є важливим методом визначення характеристик матеріалу. З розвитком технологій і розуміння матеріалознавства розробляються нові матеріали, що вимагає модернізації існуючих аналітичних методів, щоб можна було вирішити нові проблеми. Незважаючи на те, що XRD є добре зарекомендував себе неруйнівним методом, він все ще потребує подальшого вдосконалення можливостей визначення характеристик, особливо при роботі зі складними мінеральними структурами. У огляді детально обговорюються атомна кристалічна структура, принцип XRD, його застосування, невизначеність під час XRD-аналізу та необхідні заходи безпеки. Обговорюються майбутні напрямки досліджень, особливо використання штучного інтелекту та інструментів машинного навчання для підвищення ефективності та точності XRD-техніки для характеристики корисних копалин. Розглянуті теми включають те, як рентгенограми можуть бути використані для визначення кристалічної структури, розміру та орієнтації, щільності дислокацій, ідентифікації фаз, кількісного визначення та трансформації, інформації про параметри решітки, залишкову напругу та деформацію, а також термічні властивості, коефіцієнт розширення матеріалів.